2019薄膜與奈米粒子標準與計量研討會(108.06.27)

上課地址:工研院光復院區16館1F階梯教室

時數:3

起迄日期:2019-06-27~2019-06-27

聯絡資訊:陳秀芸/03-5743706

報名截止日:2019-06-25

課程類別:研討會

研討會編號:0719050009

課程介紹

隨著奈米科技的發展,許多奈米材料有別於傳統材料的特性逐漸被發現,也直接或間接地引發出許多新技術與新應用。

課程對象

半導體業、奈米生醫、奈米檢測實驗室及奈米相關產業。

課程大綱

本研討會邀請來自於澳洲國家計量研究院(NMIA)的Dr. Coleman,介紹目前於NMIA對於奈米粒子之特性研究,了解奈米粒子未來之產業應用。此外,國家度量衡標準實驗室(NML)藉由此次研討會分享,介紹前瞻新興技術如X光射線量測奈米薄膜厚度與奈米粒子粒徑線上量測等等…期待能提供半導體業、奈米生醫、奈米檢測實驗室及奈米相關產業之技術分享與切磋。所以,國家度量衡標準實驗室(NML)除了致力於奈米量測發展,也提供不論是奈米薄膜厚度量測,甚至奈米粒子粒徑量測之追溯標準。

價格

免費

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