此高端場發射掃描電子顯微鏡及前瞻材料特性分析發表會是由工研院與益弘儀器及邑流微測所合辦的活動。將針對高階掃描電子顯微鏡與前瞻材料分析之功能與應用做一詳細的介紹。
內容包含電子顯微鏡之低真空、低損傷、高對比、高解析及液態樣品之分析功能。前瞻材料分析則包含: 超快速晶體結構解析之EBSD (Electron Backscattering Diffraction)及超輕元素鋰偵測技術。此技術已廣泛用於業界以及不同的研究領域及研發新型材料，如: 半導體產業、鋰能源材料產業、國防產業、被動元件產業、合金、介金屬化合物、析出相、雜質、陶瓷、薄膜、太陽能電池、超導體以及金屬/陶瓷複合材料等。歡迎院內及產業界之材料開發相關研究人員一同參與。
針對材料微結構、特性元素分析及應用有興趣者。
免費
主辦單位：工業技術研究院材料與化工研究所 / 益弘儀器股份有限公司 /
邑流微測股份有限公司
時間：中華民國111年12月14日14:00 - 17:00
地點：新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院中興院區)
77館101、102會議室
