隨著光電產業的蓬勃發展，對光輻射量測技術的需求日益增加，並衍生出多樣化的量測挑戰，例如特殊光形、微弱光量與極紫外線（EUV）波段等。光輻射領域涵蓋光度學、色度學與輻射度學，其相關計量標準廣泛應用於 Micro-LED、IR LED、VCSEL、微型投影機與 AR/VR 等產品的研發、品質管控及實務應用。由於量測結果將直接影響儀器參數的評估、產品良率、交易驗收，甚至法規的符合性判定，因此量測的準確性顯得格外關鍵。
本研討會內容涵蓋光輻射量測基礎概論、色彩相關特性分析及多項光輻射應用的量測技術介紹，期望透過理論講授與實務分享，使學員全面強化光輻射量測技術能力，進而提升企業在產品開發與品質管理方面的整體競爭力。
歡迎有興趣學員踴躍參與!
工研院量測中心及台科大 色彩與照明科技研究所 講師群
(1)光度學與分光輻射量測技術
(2)色度學與物體色量測
(3)相機輻射度校正及其應用
(4)光量量測技術實務
NT$3,200元/人，5/13日前報名或同公司二人(含)以上參加者每名優惠價為3,000元。
(1)本場研討會提供累計甲、乙級計量人員繼續教育點數(6點)及行政院公務人員學習護照章登錄。(2)學員實際出席超過總時數3/4者，將頒發結業證書。(3)課前一週以e-mail與傳真方式傳送上課通知單。
