透過本次2024–半導體微汙染檢測技術研討會專家分享，與會者將了解如何提升檢測效能，並應對產業中的技術挑戰，歡迎各領域人才參與。
歡迎各領域人才參與。
國家度量衡標準實驗室 劉益宏 副研究員
台灣安捷倫 許家晴 應用工程師
科安企業 王惟申 業務部經理
美商沃特斯 熊元瑾 資深應用工程師
以半導體製程中的微汙染檢測新技術為主軸，本次研討會涵蓋研究單位的前瞻技術發展、以及產業的即時/線上檢測技術現況；師資陣容包含工研院量測中心–先進製程儀器暨材料計量研究室的講師，更廣邀學術及產業界的專家來分享各類先進分析方法與解決方案。
免費
