AI、5G、物聯網、電動車等新技術興起,帶動全球晶片市場的龐大需求,半導體產業中製造到成品過程,包括 1 千多項程序,如何提高良率是很關鍵的技術!!本課程著重積體電路製造產線過程中的監控量測與良率關係,確保積體電路製造中每一個製程都能符合預期成效,講解如何設計監控的查核點(WAT)將是本課程的重點以及調整查核點(WAT)的嚴謹程度,解說與推論積體電路故障的成因以及用什麼方法找出問題,藉此來修正製程流程.並解說半導體元件、電路中與可靠度相關的專有名詞,讓學員可以快速吸收從製程開始到產品完成過程中良率、故障與可靠度分析的專業知識,最後以目前業界經常使用的故障分析工具來強化工作上的實戰經驗,讓分析理論 與工作實務得到驗證,當半導體零件出問題,因為不瞭解半導體的製程,再加上不懂故障分析技術,自然無法釐清雙方責任,可能造成系統公司的內部損失,或訂單流失的風險,更可能因此昭受巨額賠償罰款。
本課程藉由學習薄膜材料、半導體元件、積體電路等三種不同級的電性、物性、光性分析方法與故障分析工具的介紹,從重要的故障分析儀器入門,清楚介紹儀器的物理行為與如何應用在半導體產業之故障分析,提高工作以及產品的良率。講師藉由積體電路製程與故障分析20多年實務經驗,節省從事半導體人員摸索或錯誤判定的時間。此課程可即學即用,是半導體之積體電路產品公司最需要的課程,值得向各界推薦。
經濟部工業局『112年度智慧電子人才應用發展推動計畫』
◆主辦單位:經濟部工業局
◆承辦單位:財團法人資訊工業策進會
◆執行單位:工業技術研究院
◆工業局一般身分補助
◆歡迎企業包班~請來電洽詢課程承辦人:吳小姐(Joy) 04-25605409
課程名稱 |
課程大綱 |
半導體製程量測 : 產線過程中的分析監控量測與良率關係 |
積體電路製程流程概述 WAT (wafer acceptable test)觀念 製程過程中的量測技術 設計準則 (Design Rule) |
IC故障分析: 故障成因與良率關係 |
良率的概念 良率與故障分析流程 故障案例分析 晶圓測試相關流程與測試靈敏度(test marginality、shomo plot) |
半導體材料分析技術與應用: 材料分析常用設備與技術 |
※電性&化性故障分析: 微光顯微鏡Application of Emission Microscopy (EMMI) 材料的注入光束分析Beam-injection Analysis in Materials 掃描式電子顯微鏡的應用Application of Scanning Electron Microscope (SEM) 能量色散光譜儀Energy Dispersive Spectrometer (EDS) 雙束聚焦離子束的應用Application of Dual-beam Focus Ion Beam (DB-FIB) 電壓對比Voltage Contrast (VC) |
邱老師
【學歷】國立成功大學 微電子工程研究所 博士
身份別(本國籍) |
費用 |
說明 |
一般身分補助 |
每人6,700元 |
原價NT$ 11,700,政府補助 NT$5,000,學員自付 NT$ 6,700 |
每人6,500元 |
須於課前14天 或 同時2人(含以上)報名 |
◎本課程經政府補助,上課學員皆需依規定填寫相關資料,且學員出席時數需達報名課程時數八成以上,方可適用補助辦法,若未符合規定者,則需將其政府補助費用繳回。
★因應性別主流化國際趨勢,打造友善職場之發展,歡迎女性學員踴躍報名